材料科学和度量衡学 X 射线系统提供用于制造各种组件的测量解决方案 - 从微型到巨型部件,从大型发动机到风力涡轮机,我们的方案为您带来更加坚固,安全和节能的组件。

什么是材料科学?它是指从原子层面观察材料结构并进行直接的结构测量。利用 X 射线测量材料的方法多种多样 - 如度量衡学,荧光分析,衍射和晶体学。度量衡学是指对组件的一组 CT 影像进行测量,通过对组件进行多次测试(例如压力,热循环和湿度),然后采集另一组 CT 影像并分析变化的过程。X 射线衍射和晶体学常用于识别材料的原子特性。X 射线通过晶体中规则的原子三维排列衍射,并通过成像板或检测器记录所得的衍射图案。根据衍射图案可以判断材料的特性。 将衍射图案与计算机数据库中的衍射图案进行比较以找到匹配数据。XRF(X 射线荧光光谱分析)是一种非破坏性分析技术,用于确定材料的元素组成。XRF 分析仪通过测量样品在被初级X射线源激发时发出的荧光(或次级)X射线来确定样品的化学成分。

从科学研究到工业质量控制(例如:航空航天工业中的涡轮铸造质量检测) - 我们的 X 射线组件可帮助提升测量技术,确保在精度要求极为严苛的环境中达到最高质量标准。 我们的产品拥有以下特性:

  • 高动态范围和对比度
  • 高饱和剂量
  • 低剂量时的高灵敏度和对比度
  • 我们的 CMOS 探测器速度快、拖影低
  • 低噪音
  • 能量范围广,适用于各类目标材料
  • 万睿视影像 X 射线平板探测器和球管助力各类 X 射线科学应用。

 

 

针对您的材料科学需求的影像解决方案

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